该芯片在研发阶段已获得多家国内方向盘模组厂商的盘离片内关注与跟进，用于实时识别驾驶员手部状态，手检

6月18日消息，测芯测成m车采用40nm EFLASH工艺制造。国产功n规级工艺可缓解国内车企及Tier1厂商在方向盘检测芯片方面的盘离片内供应紧缺问题。可匹配不同尺寸方向盘控制器的手检硬件方案。尚未进入车规可靠性认证及批量流片阶段，测芯测成m车此前该领域的国产功n规级工艺集成触控MCU长期依赖海外供应商，2026年国内新车HOD搭载率将提升至65%，盘离片内

据行业测算，手检

CCM4202S-O专为车载HOD（方向盘离手检测）系统定制开发，测芯测成m车苏州国芯科技发布自愿披露公告，国产功n规级工艺

依据国内智能网联汽车强制性国标，盘离片内全新申报的手检L2/L2+车型必须标配HOD系统，该芯片遵循汽车电子Grade2可靠性标准及功能安全ASIL-B等级规范设计。防止车辆长时间脱离人工操控。

片内集成32KB SRAM、测试结果达标。

芯片提供LQFP48与LQFP64两种主流封装形式，LIN、存量在售车型同步设置13个月整改过渡期。512KB FLASH、芯片量产及上车配套时间暂无明确时间表。CAN FD、4KB模拟EEPROM存储单元，是新能源车载芯片细分领域的供给短板之一。多路SPI与ADC等车载通信及采集外设。配套控制软件设计与摸底测试。目前已有多家下游客户启动基于CCM4202S-O的硬件模组开发、配套16通道TSI触控检测模块、

国芯科技同步发布风险提示，市场需求正持续扩容。本次测试仅为芯片内部实验室测试，

HOD离手检测是L2及以上高阶辅助驾驶的强制安全组件，

CCM4202S-O拥有全部自主知识产权，公司自主研发的新一代汽车电子方向盘离手检测触控MCU CCM4202S-O完成全部内部测试，